ニッケ機械製作所の製品
コプラナリティ検査装置NZG
コプラナリティ検査装置 高速タイプ NZGSシリーズ
画像取込時間100%以上短縮!0.1秒台へ
0.2秒の高速ラインタクトに対応
Board to Board小型コネクタに最適

特徴
- 検査時のワーク停止時間が短縮
- 高速ラインタクトに対応、インライン全数検査を可能にします
製品仕様
品名 | コプラナリティ検査装置 | ||
---|---|---|---|
型式 | NZGS-05 | NZGS-10 | |
カメラ | 5Mカメラ | ||
投影光源 | シングル投影LED | ||
高さ測定範囲 | 1.0mm | ||
視野範囲 | 16.9×8.9mm | 8.4×4.5mm | |
撮影範囲 | 15.9×7.9mm | 7.4×3.5mm | |
分解能 | 水平(XY) | 7µm | 3.5µm |
高さ(Z) | 5µm | 5µm | |
測定精度 | 水平(XY) | ±10µm | ±5µm |
高さ(Z) | ±5µm | ±5µm | |
繰返し測定精度σ | 水平(XY) | ±7µm | ±3.5µm |
高さ(Z) | ±2µm | ±2µm | |
検査時間(画像取込+検査処理) | 0.16秒(0.12秒+0.04秒) | ||
装置寸法 | 幅230×奥128×高さ400mm |
※1 弊社基準サンプルで100回測定の標準偏差(σ)であり、対象ワーク、測定条件によって異なります。
※2 検査処理時間は検査内容によって変わります。
※3 装置はカスタム可能です。
コプラナリティ検査装置 広視野タイプ NZGWシリーズ
Board to BoardコネクタやFPCコネクタなどの幅広ワークの検査に最適

特徴
- XY分解能はそのまま、幅広ワークに対応
- 高速ラインタクトに対応、インライン全数検査を可能にします
製品仕様
品名 | コプラナリティ検査装置 | |
---|---|---|
型式 | NZGW-03 | |
カメラ | 9Mカメラ | |
投影光源 | シングル投影LED | |
高さ測定範囲 | 1.0mm | |
視野範囲 | 40×20mm | |
撮影範囲 | 40×20mm | |
分解能 | 水平(XY) | 11.5µm |
高さ(Z) | 5µm | |
繰返し測定精度σ | 水平(XY) | ±11.5µm |
高さ(Z) | ±2µm | |
検査時間(画像取込+検査処理) | 0.5秒 | |
光源 | 3D:白色LED照明(オプション:赤色) 2D:白色リング照明 |
|
装置寸法 | 幅230×奥128×高さ400mm |
※1 弊社基準サンプルで100回測定の標準偏差(σ)であり、対象ワーク、測定条件によって異なります。
※2 検査処理時間は検査内容によって変わります。
※3 装置はカスタム可能です
コプラナリティ検査装置 上から投影タイプ NZSシリーズ
上向きのコンタクトなどのコプラナリティ検査に最適

特徴
- 最小二乗平面からの高さ検査、近傍からの高さ検査が可能
- 点ではなく線もない、「面」で検査する
製品仕様
品名 | コプラナリティ検査装置 | ||
---|---|---|---|
型式 | NZS-05 / NZS2-05 | NZS-02 / NZS2-02 | |
カメラ | 5Mカメラ | ||
投影光源 | シングル投影LED | ||
高さ測定範囲 | NZS=1.0mm / NZS2=2.0mm | ||
視野範囲 | 16×14mm | 37×31mm | |
撮影範囲 | 16×14mm | 37×31mm | |
分解能 | 水平(XY) | 7µm | 16µm |
高さ(Z) | NZS=5µm / NZS2=10µm | ||
繰返し測定精度σ | 水平(XY) | ±7µm | ±16µm |
高さ(Z) | NZS=±2µm / NZS2=±4µm | ||
検査時間(画像取込+検査処理) | 0.5秒 | ||
光源 | 3D:白色LED照明(オプション:赤色) 2D:白色リング照明 |
||
装置寸法 | 幅230×奥128×高さ400mm |
※1 弊社基準サンプルで100回測定の標準偏差(σ)であり、対象ワーク、測定条件によって異なります。
※2 検査処理時間は検査内容によって変わります。
※3 装置はカスタム可能です。
コプラナリティ検査装置 高精度タイプ NZG-Aシリーズ
極小コネクタ(Board to Board、同軸コネクタ)に最適

特徴
- 高精度、高分解能で検査可能
- 新アルゴリズムで安定した検査が可能
製品仕様
品名 | コプラナリティ検査装置 | ||
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型式 | NZG-10A | NZG-10AH | |
カメラ | 5Mカメラ | ||
投影光源 | シングル投影LED | ||
高さ測定範囲 | 1.0mm | 0.5mm | |
視野範囲 | 8.4×4.5mm | ||
撮影範囲 | 7.4×3.5mm | ||
分解能 | 水平(XY) | 3.5µm | 3.5µm |
高さ(Z) | 5µm | 2.5µm | |
測定精度 | 水平(XY) | ±5µm | ±5µm |
高さ(Z) | ±5µm | ±2.5µm | |
繰返し測定精度σ | 水平(XY) | ±3.5µm | ±3.5µm |
高さ(Z) | ±2µm | ±1µm | |
検査時間(画像取込+検査処理) | 0.8秒 | ||
装置寸法 | 幅230×奥128×高さ400mm |
※1 弊社基準サンプルで100回測定の標準偏差(σ)であり、対象ワーク、測定条件によって異なります。
※2 検査処理時間は検査内容によって変わります。
※3 装置はカスタム可能です。
加熟形状検査裟置HEAT TEATER

XYステージタイプ NZH-1000

卓上タイプ NZH-05X
品名 | ヒートテスター | 卓上ヒートテスター | |
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型式 | NZH-1000 | NZH-05X | |
検査項目 | ガラス面を基準とした コプラナリティ検査 |
ガラス面を基準とした コプラナリティ検査 |
|
カメラ | CCDエリアカメラ | CCDエリアカメラ | |
投影光源 | LED光源 | LED光源 | |
高さ測定範囲 | 1.0mm | 1.0mm | |
視野範囲 | 16×14mm | 16×14mm | |
撮影範囲(最大ワーク) | □50mm | 16.5×71mm | |
分解能 | 水平(XY) | 7µm | 7µm |
高さ(Z) | 5µm | 5µm | |
繰返し測定精度 | 水平(XY) | ±7µm | ±7µm |
高さ(Z) | ±2µm | ±2µm | |
検査時間 | 時間 | 0.3sec(高速モード)/ 1.8sec(標準モード) |
0.3sec(高速モード) |
時間 | 0.3msec/検査エリア | 1.6msec/検査エリア | |
電力 | AC100V 単相 50/60Hz 15A | AC100V 単相 50/60Hz 15A | |
加熱範囲 | 75×75×25mm | 75×30×25mm | |
加熱方式 | ヒーターガラス 自然対流方式 | ヒーターガラス 自然対流方式 | |
冷却方式 | エアクーラーによる冷却 | エアクーラーによる冷却 | |
温度制御 | ガラス面制御 | ガラス面制御 | |
最高到達温度 | 300℃ | 300℃ | |
昇温能力 | 3℃/sec | 3℃/sec | |
冷却能力 | 5℃/sec | 5℃/sec | |
エアー圧 | 0.4MPa | 0.4MPa | |
エアー流量 | 冷却時 350L/min | 冷却時 350L/min | |
装置寸法・質量 | 幅680×奥700×高さ1205mm 300kg |
幅400×奥500×高さ360mm 70kg |
※1 弊社基準サンプルで100回測定の標準偏差(σ)であり、対象ワーク、測定条件によって異なります。
※2 測定時間とは、検査開始から3次元データ作成までの時間です。
※3 測定時間+(解析時間×検査エリア数)=検査時間とします。
検査対象及び検査要素
プリント基板半田面

- 高さ検査
- 平坦度検査
メモリーカード等電極接触面

- 高さ検査
- 平坦度検査
セラミック基板

- 平坦度(反り)検査
半田塗布物等

- 体積検査
- 盛り具合の検査
BGA等IC

- 高さ検査
- 平坦度検査
- ボール有無の検査
コネクタ等半田面、勘合面

- ピッチ寸法検査
- 平坦度検査