株式会社ニッケ機械製作所

NIKKE Group

画像検査関連

ニッケ機械製作所の製品

コプラナリティ検査装置NZG

コプラナリティ検査装置 高速タイプ NZGSシリーズ

画像取込時間100%以上短縮!0.1秒台へ
0.2秒の高速ラインタクトに対応
Board to Board小型コネクタに最適

コプラナリティ検査装置 高速タイプ NZGSシリーズ
特徴
  • 検査時のワーク停止時間が短縮
  • 高速ラインタクトに対応、インライン全数検査を可能にします
製品仕様
品名 コプラナリティ検査装置
型式 NZGS-05 NZGS-10
カメラ 5Mカメラ
投影光源 シングル投影LED
高さ測定範囲 1.0mm
視野範囲 16.9×8.9mm 8.4×4.5mm
撮影範囲 15.9×7.9mm 7.4×3.5mm
分解能 水平(XY) 7µm 3.5µm
高さ(Z) 5µm 5µm
測定精度 水平(XY) ±10µm ±5µm
高さ(Z) ±5µm ±5µm
繰返し測定精度σ 水平(XY) ±7µm ±3.5µm
高さ(Z) ±2µm ±2µm
検査時間(画像取込+検査処理) 0.16秒(0.12秒+0.04秒)
装置寸法 幅230×奥128×高さ400mm

※1 弊社基準サンプルで100回測定の標準偏差(σ)であり、対象ワーク、測定条件によって異なります。
※2 検査処理時間は検査内容によって変わります。
※3 装置はカスタム可能です。

コプラナリティ検査装置 広視野タイプ NZGWシリーズ

Board to BoardコネクタやFPCコネクタなどの幅広ワークの検査に最適
 
 

コプラナリティ検査装置 広視野タイプ NZGWシリーズ
特徴
  • XY分解能はそのまま、幅広ワークに対応
  • 高速ラインタクトに対応、インライン全数検査を可能にします
製品仕様
品名 コプラナリティ検査装置
型式 NZGW-03
カメラ 9Mカメラ
投影光源 シングル投影LED
高さ測定範囲 1.0mm
視野範囲 40×20mm
撮影範囲 40×20mm
分解能 水平(XY) 11.5µm
高さ(Z) 5µm
繰返し測定精度σ 水平(XY) ±11.5µm
高さ(Z) ±2µm
検査時間(画像取込+検査処理) 0.5秒
光源 3D:白色LED照明(オプション:赤色)
2D:白色リング照明
装置寸法 幅230×奥128×高さ400mm

※1 弊社基準サンプルで100回測定の標準偏差(σ)であり、対象ワーク、測定条件によって異なります。
※2 検査処理時間は検査内容によって変わります。
※3 装置はカスタム可能です

コプラナリティ検査装置 上から投影タイプ NZSシリーズ

上向きのコンタクトなどのコプラナリティ検査に最適

コプラナリティ検査装置 上から投影タイプ NZSシリーズ
特徴
  • 最小二乗平面からの高さ検査、近傍からの高さ検査が可能
  • 点ではなく線もない、「面」で検査する
製品仕様
品名 コプラナリティ検査装置
型式 NZS-05 / NZS2-05 NZS-02 / NZS2-02
カメラ 5Mカメラ
投影光源 シングル投影LED
高さ測定範囲 NZS=1.0mm / NZS2=2.0mm
視野範囲 16×14mm 37×31mm
撮影範囲 16×14mm 37×31mm
分解能 水平(XY) 7µm 16µm
高さ(Z) NZS=5µm / NZS2=10µm
繰返し測定精度σ 水平(XY) ±7µm ±16µm
高さ(Z) NZS=±2µm / NZS2=±4µm
検査時間(画像取込+検査処理) 0.5秒
光源 3D:白色LED照明(オプション:赤色)
2D:白色リング照明
装置寸法 幅230×奥128×高さ400mm

※1 弊社基準サンプルで100回測定の標準偏差(σ)であり、対象ワーク、測定条件によって異なります。
※2 検査処理時間は検査内容によって変わります。
※3 装置はカスタム可能です。

コプラナリティ検査装置 高精度タイプ NZG-Aシリーズ

極小コネクタ(Board to Board、同軸コネクタ)に最適

コプラナリティ検査装置 高精度タイプ NZG-Aシリーズ
特徴
  • 高精度、高分解能で検査可能
  • 新アルゴリズムで安定した検査が可能
製品仕様
品名 コプラナリティ検査装置
型式 NZG-10A NZG-10AH
カメラ 5Mカメラ
投影光源 シングル投影LED
高さ測定範囲 1.0mm 0.5mm
視野範囲 8.4×4.5mm
撮影範囲 7.4×3.5mm
分解能 水平(XY) 3.5µm 3.5µm
高さ(Z) 5µm 2.5µm
測定精度 水平(XY) ±5µm ±5µm
高さ(Z) ±5µm ±2.5µm
繰返し測定精度σ 水平(XY) ±3.5µm ±3.5µm
高さ(Z) ±2µm ±1µm
検査時間(画像取込+検査処理) 0.8秒
装置寸法 幅230×奥128×高さ400mm

※1 弊社基準サンプルで100回測定の標準偏差(σ)であり、対象ワーク、測定条件によって異なります。
※2 検査処理時間は検査内容によって変わります。
※3 装置はカスタム可能です。

加熟形状検査裟置HEAT TEATER

XYステージタイプNZH-1000

XYステージタイプ NZH-1000

卓上タイプ NZH-05X

卓上タイプ NZH-05X

品名 ヒートテスター 卓上ヒートテスター
型式 NZH-1000 NZH-05X
検査項目 ガラス面を基準とした
コプラナリティ検査
ガラス面を基準とした
コプラナリティ検査
カメラ CCDエリアカメラ CCDエリアカメラ
投影光源 LED光源 LED光源
高さ測定範囲 1.0mm 1.0mm
視野範囲 16×14mm 16×14mm
撮影範囲(最大ワーク) □50mm 16.5×71mm
分解能 水平(XY) 7µm 7µm
高さ(Z) 5µm 5µm
繰返し測定精度 水平(XY) ±7µm ±7µm
高さ(Z) ±2µm ±2µm
検査時間 時間 0.3sec(高速モード)/
1.8sec(標準モード)
0.3sec(高速モード)
時間 0.3msec/検査エリア 1.6msec/検査エリア
電力 AC100V 単相 50/60Hz 15A AC100V 単相 50/60Hz 15A
加熱範囲 75×75×25mm 75×30×25mm
加熱方式 ヒーターガラス 自然対流方式 ヒーターガラス 自然対流方式
冷却方式 エアクーラーによる冷却 エアクーラーによる冷却
温度制御 ガラス面制御 ガラス面制御
最高到達温度 300℃ 300℃
昇温能力 3℃/sec 3℃/sec
冷却能力 5℃/sec 5℃/sec
エアー圧 0.4MPa 0.4MPa
エアー流量 冷却時 350L/min 冷却時 350L/min
装置寸法・質量 幅680×奥700×高さ1205mm
300kg
幅400×奥500×高さ360mm
70kg

※1 弊社基準サンプルで100回測定の標準偏差(σ)であり、対象ワーク、測定条件によって異なります。
※2 測定時間とは、検査開始から3次元データ作成までの時間です。
※3 測定時間+(解析時間×検査エリア数)=検査時間とします。

基板ソリ測定装置Zebra

検査対象及び検査要素

プリント基板半田面
プリント基板半田面
  • 高さ検査
  • 平坦度検査

メモリーカード等電極接触面
メモリーカード等電極接触面
  • 高さ検査
  • 平坦度検査

セラミック基板
セラミック基板
  • 平坦度(反り)検査

半田塗布物等
半田塗布物等
  • 体積検査
  • 盛り具合の検査

BGA等IC
BGA等IC
  • 高さ検査
  • 平坦度検査
  • ボール有無の検査

コネクタ等半田面、勘合面
コネクタ等半田面、勘合面
  • ピッチ寸法検査
  • 平坦度検査

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