非接触3次元
検査装置

HICテスタ

NS2006



★特 徴
 電子デバイスのダイナミック動特性を全数検査
 品質/コスト/検査タクトを簡単操作で改善


アナログ・デジタル複合ICの測定が可能です。

電装品の特性検査等、ソフト対応で固有テスト、シュミレートも可能です。

印加電圧0〜60V 4チャンネル 印加電流 0〜6A 1チャンネル

出力ピン数 フォース・センス各8ピン マトリックス対応

測定回路切替えは、MOS−FETにより行います。

汎用測定ソフトモジュールにより、プログラムレスで任意測定条件の設定が可能です。

ローコスト・コンパクト設計です。








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