非接触３次元 検査装置 HICテスタ NS2006

★特　徴　★測定実施例　★製品仕様　★システム構成　★外径寸法 ★特 徴 「見る」から「測る」　目視検査も、形状測定、判定の時代へ！低価格・高ダイナミックレンジの卓上検査モデル ●より小型でより手軽に三次元検査を実現！ ●卓上でも高速三次元検査が可能！ ●生産設備への三次元検査機の組み込みが実現！ ●測定物を静止状態で撮影することで、高い安定性を実現しました。 ●卓上タイプは、測定物を治具にのせ、ボタンを押すだけの簡単自動検査です。 ●徹底したコストダウン設計により省スペース、低価格を実現。 ●既存の2次元検査スペースにもユニット供給可能です。 ★測定実施例 ２次元画像 ３次元画像 ＳＤメモリーカード用コネクタ接合部分 スマートカードコネクタ　リード部分 プリント基板コネクタピン ＩＣカードコネクタ接合部分 PbフリーBGA プリント基板コネクタ取付ねじ ★製品仕様 ●ヘッドユニット モデル 標準 高分解能 高さレンジ可変 ワイドビュー 型式 Ｕｓ-1 Us-2 Hs Us-WV 高さ測定範囲 1.8 mm 0.9 mm 4〜8 mm 5 mm 視野範囲 18 mm × 13.5 mm 7.0 mm × 5.4 mm 30 mm × 22 mm 90 mm × 68 mm 水平分解能 11 μm 4.4 μm 21.5 μm 66.5 μm 高さ分解能 7 μm 3.5 μm 16 μm 20 μm 高さ測定精度 ※1 ±1 μm ±1 μm ±2 μm ±15 μm 検査時間 ※3 測定時間 ※2 3.0 sec 3.0 sec 4.5 sec 3.0 sec 解析時間 1.6msec/検査エリア XYステージ □150 mm □100 mm □150 mm □300 mm 電源 AC100V　50/60Hz 消費電力 400W ※1：弊社基準サンプルで100回測定の標準偏差(σ)値であり、対象ワーク、測定条件によって異なります。 ※2：測定時間とは、検査開始から3次元データ作成までの時間です。 ※3：測定時間＋(解析時間×検査エリア数）＝検査時間とします。 ★システム構成 ★外径寸法

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